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Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM)

Scanning probe microscopes · for Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Bayreuth · Germany · published in German

What the buyer wants

Gegenstand der Beschaffung ist ein höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM) einschließlich aller für den Betrieb erforderlichen Hard- und Softwarekomponenten. Das System dient der hochauflösenden Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen auf Nano- und atomarer Skala, insbesondere für 3D-AFM-Messungen in Flüssigkeiten sowie driftarme Langzeitmessungen in Forschungsanwendungen.

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